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CAT24C32
Table 5. A.C. CHARACTERISTICS
(V CC = 1.8 V to 5. 5 V, T A = ? 40 ° C to +125 ° C and V CC = 1.7 V to 5.5 V, T A = ? 40 ° C to +85 ° C.) (Note 6)
Standard
V CC = 1.7 V ? 5.5 V
Fast
V CC = 1.7 V ? 5.5 V
Fast ? Plus (Note 9)
V CC = 2.5 V ? 5.5 V
T A = ? 40 5 C to +85 5 C
Symbol
Parameter
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Units
F SCL
t HD:STA
t LOW
t HIGH
t SU:STA
t HD:DAT
t SU:DAT
t R (Note 7)
t F (Note 7)
t SU:STO
t BUF
t AA
t DH
T i (Note 7)
t SU:WP
t HD:WP
t WR
Clock Frequency
START Condition Hold Time
Low Period of SCL Clock
High Period of SCL Clock
START Condition Setup Time
Data In Hold Time
Data In Setup Time
SDA and SCL Rise Time
SDA and SCL Fall Time
STOP Condition Setup Time
Bus Free Time Between STOP
and START
SCL Low to Data Out Valid
Data Out Hold Time
Noise Pulse Filtered at SCL and
SDA Inputs
WP Setup Time
WP Hold Time
Write Cycle Time
4
4.7
4
4.7
0
250
4
4.7
100
0
2.5
100
1,000
300
3.5
100
5
0.6
1.3
0.6
0.6
0
100
0.6
1.3
100
0
2.5
400
300
300
0.9
100
5
0.25
0.45
0.40
0.25
0
50
0.25
0.5
50
0
1
1,000
100
100
0.40
100
5
kHz
m s
m s
m s
m s
m s
ns
ns
ns
m s
m s
m s
ns
ns
m s
m s
ms
t PU (Notes 7, 8)
Power ? up to Ready Mode
1
1
0.1
1
ms
6.
7.
8.
9.
Test conditions according to “A.C. Test Conditions” table.
Tested initially and after a design or process change that affects this parameter.
t PU is the delay between the time V CC is stable and the device is ready to accept commands.
Fast ? Plus (1 MHz) speed class available for product revision “F”. The die revision “F” is identified by letter “F” or a dedicated marking code
on top of the package.
Table 6. A.C. TEST CONDITIONS
Input Drive Levels
Input Rise and Fall Time
Input Reference Levels
Output Reference Level
Output Test Load
0.2 x V CC to 0.8 x V CC
≤ 50 ns
0.3 x V CC , 0.7 x V CC
0.5 x V CC
Current Source I OL = 3 mA (V CC ≥ 2.5 V); I OL = 1 mA (V CC < 2.5 V); C L = 100 pF
http://onsemi.com
4
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